Е7-22

Измерение ёмкости (0,5 пФ…20 мФ), индуктивности (5 мкГн…10 кГн), тангенса угла потерь, добротности, сопротивления переменному току (0,1 Ом…10МОм), эквивалентного послед./парал. Базовая погрешность 0,5% (сопротивление), 0,7% (индуктивность, ёмкость), тест-сигнал: 120 Гц, 1 кГц (ручной выбор), последовательная/параллельная схема замещения (ручной выбор), высокое разрешение (0,1 мкГн, 0,1 пФ, 1 мОм), одновременная индикация двух измеряемых параметров (С и D/Q/R, L и D/Q/R), авто­матический/ручной выбор предела измерения, регистрация max/min и вычисление среднего значения, режим D-измерений и допускового контроля,арту RS-232 универсальное питание, опция TL-06: щуп для SMD компонентов.

Измерение ёмкости (0,5 пФ…20 мФ), индуктивности (5 мкГн…10 кГн), тангенса угла потерь, добротности, сопротивления переменному току (0,1 Ом…10МОм), эквивалентного послед./парал. Базовая погрешность 0,5% (сопротивление), 0,7% (индуктивность, ёмкость), тест-сигнал: 120 Гц, 1 кГц (ручной выбор), последовательная/параллельная схема замещения (ручной выбор), высокое разрешение (0,1 мкГн, 0,1 пФ, 1 мОм), одновременная индикация двух измеряемых параметров (С и D/Q/R, L и D/Q/R), авто­матический/ручной выбор предела измерения, регистрация max/min и вычисление среднего значения, режим D-измерений и допускового контроля,арту RS-232 универсальное питание, опция TL-06: щуп для SMD компонентов.